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材料的电子能量 损失谱分析. 内 容. 1 基本原理 : 1】电子散射 2】表征 2 仪器结构 : 1】谱仪 2】能量过滤 3 应用举例 : 1】元素分析 2】电子状态 3】过滤像. EELS 基本原理. 电子的非弹性散射. 电子散射的表征. 散射截面: σ= N/n m n e 平均自由程: b = 6.25×10 2 (ρ/A) 1/2 (Z/E)t 3/2 束扩展: λ= A/N 0 ρ 吸收系数: dI = -μ 0 Idt 穿透能力: 1/ μ 0. EELS 的典型谱线.
E N D
内 容 • 1 基本原理:1】电子散射 2】表征 • 2 仪器结构: 1】谱仪 2】能量过滤 • 3 应用举例:1】元素分析 2】电子状态 3】过滤像
电子散射的表征 • 散射截面:σ= N/nm ne • 平均自由程: b = 6.25×102(ρ/A)1/2(Z/E)t3/2 • 束扩展:λ= A/N0ρ • 吸收系数:dI = -μ0Idt • 穿透能力:1/μ0
吸收边能量 能级位置 • K边 1s壳层 • L2,3边 2p壳层 • M4,5边 3d壳层 • N6,7边 4f壳层
CCD 能量过滤器和损失谱仪比较
一、AlSiON陶瓷的元素分析 TEM衍衬像
二、BN的B-K边与散射角的关系 C // 2Pz轨道 C面:X-Y 2Px-Py轨道 188ev
BN电子散射矢量几何 000 ¼ ½
1/2d 1/4d α 000 100 1/d 散射角的选择 α=1/50d
三、非晶碳、石墨和金刚石的EELS谱 C-K = 284 ev π σ 284ev 291ev
石墨的C-K边及石墨的径向分布函数 F 高 能 区 0.14nm
四、(Bi,Ca)MnO3相变引起O-K边变化(1s 2p) Ca=0.95 527ev Ca=0.85 O-K=532ev
(Bi,Ca)MnO3相变引起O-K边变化 O-K=532ev 室温相 低温相 527ev
TiNiFe马氏体的Ti、Ni的L2,3边(p d 白线) L2(2p 1/2-3d) (2p 3/2-3d) L3 456ev 462ev L3 L2 855ev 872ev
六、Cu和Cu合金的L2,3边:2p 3d Cu1-x Alx Al=0.8 L3: 931ev L2: 951ev Al=0.5 Al=0.25 Al=0.0
探测几何影响空间分辨率能谱、能损谱、Z衬度像有不同分辨率能损谱空间分辨率高于能谱探测几何影响空间分辨率能谱、能损谱、Z衬度像有不同分辨率能损谱空间分辨率高于能谱
能损谱-扫描像能量过滤像能损谱-线扫描(一维“谱•像”)二维“谱•像”——三维图象能损谱-扫描像能量过滤像能损谱-线扫描(一维“谱•像”)二维“谱•像”——三维图象
一维“谱-像”可定量分析 定量强度分布 碳空心管 锰的填充
Probe position 碳-(硼-氮)-碳套管
4 3 2 IF1 IF2 1 GB1 GB2 0 100ev 120ev 140ev 4.AEM: 晶界膜变化
GB2 GB1
Bulk: TiO 2 S 5: Fe=0.5 wt. % S 5: Fe=0.1 wt.% S 5: no Fe Bulk: SrTiO 3 520 540 560 Energy Loss (eV) 4.AEM: “谱分离”定义晶界
CaTiO3 BF BF Ca4Ti3O10 HADF HADF CaO Fault 5 nm 5 nm CaO Bulk Energy Loss (eV) 层错面能损谱-像的获得钛酸钙中多余氧化钙原子层
B Mapping CMapping Zero-Loss (10 eV) NMapping OMapping Energy-Filtered TEM
Si O Ti STEM-EELS分析
2 8 1.5 6 x 1000 x 1000 4 1.0 2 0.5 0 0 6 1.0 5 0.8 Weight to Model 4 x 1000 0.6 3 0.4 2 0.2 1 0 0 1.5 1.5 Weight to Model 1.0 1.0 0.5 0.5 0 0 8 0 2 4 6 0 2 4 6 8 . Ca O Ti CaTiO ELNES: 3 CaO fault ELNES: Ca/Ti Position (nm)