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實驗三: 氣體分子極化率的測量. 組別 :A3 組員 : 吳 雨 柔 ( 實驗目的和原理 ) 李佳穎 ( 實驗儀器和步驟 ). 1. 了解介質折射率的性質。 2. 熟悉雷射與光學儀器操作。 3. 學習利用 Michelson 干涉儀測量氣體折射率。. 實驗目的. 1. 光與介電值的作用 2. 雷射光的特性 3. 麥克森干涉儀 (Michelson Interferometer) 原理. 實驗原理. * 永久 偶極矩 (permanent dipole moment): 分子因 負電荷中心和正電荷中心 未 重合
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實驗三:氣體分子極化率的測量 組別:A3 組員:吳雨柔(實驗目的和原理) 李佳穎(實驗儀器和步驟)
1.了解介質折射率的性質。 2.熟悉雷射與光學儀器操作。 3.學習利用 Michelson 干涉儀測量氣體折射率。 實驗目的
1.光與介電值的作用 2.雷射光的特性 3.麥克森干涉儀(Michelson Interferometer)原理 實驗原理
*永久偶極矩(permanent dipole moment): 分子因負電荷中心和正電荷中心未重合 *定向極化(Orientation Polarization):P(or)具永久偶極矩之分子置於靜電場中時,因受外電場影響,原先任意排列之分子會旋轉某一角度,盡量使偶極矩和電場成直線 →電場極化(polarize)此分子 1.光與介電值的作用
感應偶極矩(induced dipole moment):分子不帶有永久偶極矩,但置於電場時,電場使分子的正負電荷分離,造成暫時性的偶極矩 1.電子雲被吸引脫離中心核所在位置→P(el) 2.分子鍵stretching、bending所造成各原子上有效電荷不同(如O-C-O)→P(d) 則此極化現象稱做電子、原子之畸變極化 (Distortion Polarization)
*總極化度P和介電係數ε(dielectric constant 之關係→Clausius-Mossotti關係 M:分子量 ρ:密度 *總極化度
*振盪電場頻率→IR範圍 →分子沒有時間在電場轉換前旋轉 →所測極化度無定向極化P(or) →只剩下畸變極化P(el)+P(d) *振盪電場頻率→可見光範圍 →分子畸變影響消失P(d) 只剩下電子雲的畸變影 響P(el) →只剩下電子畸變極化度P(el)
*只有電子畸變極化P(el)情況下 ε:介電係數 n:折射率(refractive index) α:分子極化率 N0:亞佛加厥數
*根據Clausius-Mossotti關係 代入 得Lorentz方程式
假設氣體1折射率為n1密度為ρ1 氣體2折射率為n2密度為ρ2 代入 得 →可由折射率求α值
相同的波長 • 相同的前進方向 • 相同的相位
光束橫截面強度 I0:光束中心強度 w:光束半徑→強度1/e2之處 χ:至光束中心的距離 高斯光束(Gaussian beam)
*當光傳播時,光束半徑及球面的曲率半徑會一 直改變。 W0:雷射光腰身(waist)半徑 λ:雷射光波長 Z:光束中心至腰部的距離 Z
Constructive interference建設性干涉: 兩束光干擾時→疊加 在屏幕上為亮區 • Destructive interference 破壞性干涉: 兩束光干擾時→相消 在屏幕上為暗區 Michelson's Interferometer 麥克森干涉儀
*原理: 雷射光經過分光鏡分割成反射及穿透兩道光束;反射光經由M2(固定鏡)反射,以原路徑折返,穿過分光鏡,到達屏幕。 穿透光則由 M1(可動鏡)反射,同樣由原路徑折返,再經由分光鏡反射,到達屏幕 *兩道經由M1、M2反射的 光束,其光程分別為d1、d2,若光程差為波長的整數倍,平幕上會出現同心圓的干涉條紋 • 光程差滿足下列公式:
*在螢幕上的某一坡峰或波谷處固定一點,改變氣體折射率:*在螢幕上的某一坡峰或波谷處固定一點,改變氣體折射率: 干涉條紋會移動,不斷通過此點 *當通過m個干涉條紋 →光程差為mλ 經 由光程差推得折射率 利用光程差推得折射率
證: 假設真空速率:v0 氣體1:速率v1 氣體2:速率v2 時間差:t 容器長度:d 速率定義
波程差 ...(1) …(2) 將(1)代入(2)