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TEST FONCTIONNEL DES MEMOIRES

Rsum. IntroductionModlisation de la mmoireMcanismes de dfaillances et modlisation de fautesAlgorithmes de test pour RAMTest des ROMsBIST mmoire. Introduction. Les mmoires (particulirement les RAM) sont au premier rang de la conception des circuits commerciauxLes DRAMs sont les mot

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Presentation Transcript

    1. © C. Landrault 2004 TEST FONCTIONNEL DES MEMOIRES Christian LANDRAULT landraul@lirmm.fr

    2. Résumé Introduction Modélisation de la mémoire Mécanismes de défaillances et modélisation de fautes Algorithmes de test pour RAM Test des ROMs BIST mémoire

    3. Introduction Les mémoires (particulièrement les RAM) sont au premier rang de la conception des circuits commerciaux Les DRAMs sont les moteurs du développement technologique dans l’industrie des semi-conducteurs Les mémoires sont les coeurs les plus utilisés dans les SoC (centaines !)

    4. Principaux types de mémoires vives RAMs (Random Access Memories) RAM dynamique (DRAM) La meilleure densité Temps d’accès lent (typiquement 20ns) L’information est stockée comme la charge d’un condensateur et doit être rafraîchie régulièrement RAM statique (SRAM) Les plus rapides (typiquement 2ns) L’information est stockée dans des latches réalisés avec des inverseurs rebouclés

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